+7 (495) 781-07-85
0 Сравнение EN

SM-20

Основные характеристики

Тип микроскопа Сканирующий
Область применения Материаловедение, Междисциплинарные научные центры, Образование
Направление деятельности 2D-анализ, Автоматизированный анализ частиц и включений, Образование и обучение, Судебная экспертиза
Объекты интереса 101 нм – 100 мкм

SM-20 — микроскоп нового поколения, всегда готовый к работе, подходящий даже для пользователей, мало знакомых с СЭМ. Прибор обеспечивает возможность размещения больших образцов весом до 5 кг и предоставляет доступ ко всей камере, а высокие токи пучка делают данный микроскоп незаменимым инструментом для проведения элементного анализа в любой материаловедческой лаборатории. Прибор прост в использовании и обслуживании. Его конструкция обеспечивает длительное время безотказной работы, а замена катода и настройка колонны и оптики могут быть выполнены пользователем с любым уровнем опыта.

Основные преимущества:

  • доступность даже при ограниченном бюджете;
  • большая рабочая камера;
  • навигационная камера уже в базовой комплектации;
  • системы автоматизации для качественной визуализации и настройки систем микроскопа.
Тип микроскопа Сканирующий
Область применения Материаловедение, Междисциплинарные научные центры, Образование
Направление деятельности 2D-анализ, Автоматизированный анализ частиц и включений, Образование и обучение, Судебная экспертиза
Объекты интереса 101 нм – 100 мкм
Тип катода Термоэмиссионный (вольфрамовый)
Пятиосевой моторизованный Нет
Двухосевой моторизованный Есть
Максимальный вес образца, г 2 000
Максимальный диаметр образца, мм 250
Ход по осям X и Y, мм 100 × 100
Воспроизводимость по осям X и Y, мкм < 5,0
Ход по оси Z, мм Нет
Поворот, град. Нет
Наклон, град. Нет
Ширина камеры, мм 280
Количество портов для установки дополнительных детекторов, шт. 13
Детектор вторичных электронов Эверхарта-Торнли Есть
ИК-камера для наблюдения положения образца в камере Есть
Навигационная камера высокого разрешения Есть
Интегрированная система измерения тока луча Нет
Детектор вторичных электронов для низкого вакуума (LVD) Нет
Внутрилинзовый детектор Нет
Детектор обратно-отраженных электронов (BSED) Опция
Детектор прошедших электронов (STEM) Нет
Детектор для катодолюминесценции (CL) Нет
Детектор Raman Нет
ЭДС Опция
ДОРЭ Опция
ВДС Нет
Высокий вакуум, Па < 5,0 × 10-4
Низкий вакуум, Па Нет
Безмасляная вакуумная система Нет
Литография Нет
Крио-СЭМ Опция
Манипулятор Опция
Зондовые станции Опция
Панель управления микроскопом Опция
Трекбол Опция
Столик для охлаждения Нет
Столик для нагрева Опция
Столик для растяжения/сжатия Опция
Вакуумный шлюз Нет
Функция замедления пучка Нет

Записаться в демозал

Приходите к нам в демозал с образцами и лично убедитесь в высоком качестве предлагаемого оборудования.

Запросить online демонстрацию

Мы можем провести для Вас online демонстрацию работы оборудования