+7 (495) 781-07-85
0 Сравнение EN

SM-50

Основные характеристики

Тип микроскопа Сканирующий
Область применения Материаловедение, Междисциплинарные научные центры, Образование
Направление деятельности 2D-анализ, Автоматизированный анализ частиц и включений, Геология
Объекты интереса 11 нм – 100 нм

СЭМ SM-50 имеет высокое разрешение (до 0,8 нм), которое сочетается с высоким контрастом изображения благодаря автоэмиссионному катоду типа Шоттки и использованию передовых сверхчувствительных детекторов. Высоковольтная туннельная технология (SuperTunnel), конструкция объектива с низким уровнем аберраций и отсутствием магнитной утечки идеально подходят для получения изображений с высоким разрешением при низком ускоряющем напряжении, в том числе для анализа магнитных образцов. Оптическая навигация, автоматические функции, хорошо продуманная эргономика, оптимизированные процессы эксплуатации — независимо от того, есть у вас опыт работы или нет, вы можете быстро приступить к работе и выполнять съемки с максимально высоким разрешением.

Основные преимущества:

  • изображения с высоким разрешением при низком ускоряющем напряжении;
  • электромагнитный комбинированный объектив уменьшает аберрации, значительно улучшает разрешение при низком напряжении и позволяет наблюдать магнитные образцы;
  • технология высоковольтного туннеля (SuperTunnel), в котором электроны могут поддерживать высокую энергию, уменьшая эффект пространственного заряда, что гарантирует высокое разрешение при низком напряжении;
  • большая рабочая камера;
  • навигационная камера уже в базовой комплектации;
  • регулируемая диафрагма с магнитным отклонением с шестью отверстиями, автоматическое переключение отверстий диафрагмы, отсутствие необходимости в механической регулировке позволяют быстро переключать ток пучка между аналитическим режимом и режимом высокого разрешения;
  • системы автоматизации для качественной визуализации и настройки систем микроскопа.
Тип микроскопа Сканирующий
Область применения Материаловедение, Междисциплинарные научные центры, Образование
Направление деятельности 2D-анализ, Автоматизированный анализ частиц и включений, Геология
Объекты интереса 11 нм – 100 нм
Тип катода Термополевой катод типа Шоттки
Пятиосевой моторизованный Есть
Двухосевой моторизованный Нет
Максимальный вес образца, г 5 000
Максимальный диаметр образца, мм 270
Ход по осям X и Y, мм 120 × 115
Воспроизводимость по осям X и Y, мкм < 2,0
Ход по оси Z, мм 50
Поворот, град. 360
Наклон, град. –10/+90
Ширина камеры, мм 340
Количество портов для установки дополнительных детекторов, шт. 11
Детектор вторичных электронов Эверхарта-Торнли Есть
ИК-камера для наблюдения положения образца в камере Есть
Навигационная камера высокого разрешения Есть
Интегрированная система измерения тока луча Есть
Детектор вторичных электронов для низкого вакуума (LVD) Нет
Внутрилинзовый детектор Есть
Детектор обратно-отраженных электронов (BSED) Опция
Детектор прошедших электронов (STEM) Опция
Детектор для катодолюминесценции (CL) Опция
Детектор Raman Опция
ЭДС Опция
ДОРЭ Опция
ВДС Нет
Высокий вакуум, Па < 5,0 × 10-6
Низкий вакуум, Па Нет
Безмасляная вакуумная система Есть
Литография Опция
Крио-СЭМ Опция
Манипулятор Опция
Зондовые станции Опция
Панель управления микроскопом Опция
Трекбол Опция
Столик для охлаждения Опция
Столик для нагрева Опция
Столик для растяжения/сжатия Опция
Вакуумный шлюз Опция
Функция замедления пучка Есть

Записаться в демозал

Приходите к нам в демозал с образцами и лично убедитесь в высоком качестве предлагаемого оборудования.

Запросить online демонстрацию

Мы можем провести для Вас online демонстрацию работы оборудования