Система EFPscan-2000 разработана для решения специальных задач, когда объект контроля имеет большой размер, но плоскую форму с малой толщиной. Измерение такого объекта классическим способом томографии является проблематичным ввиду большой радиацинной тощины. Система томографии с ламинографией позволяет с помощью наклона на небольшие углы с последующей реконструкцией изображений получить точные данные по слоям и дефектам в них. Система подходит для контроля электронных плат по слоям, контактных разъемов, чипов, что позволяет выявлять такие дефекты, как поры, отсутствие контакта, непропай.
Основные преимущества:
Применение:
Максимальное пространственное разрешение системы томографии, мкм | 5 |
---|---|
Максимальное напряжение на рентгеновской трубке, кВ | 130, 160 |
Плоскопанельный детектор | Да |
Максимальный размер образца, мм (диаметр × высота) | 610 × 610 |
Максимальная толщина образца, мм | 0,5–7 |
Максимальная масса образца, кг | 10 |
Соблюдение норм радиационной безопасности при работе с ИИИ | Менее 1 мкЗв/ч на расстоянии 10 см от поверхности томографа |
Габариты томографа (Д × Ш × В), мм | Н/д |
Вес, кг | Н/д |
Материал | Керамика, Композитные материалы, Металлы, Пластики |
Приходите к нам в демозал с образцами и лично убедитесь в высоком качестве предлагаемого оборудования.
Мы можем провести для Вас online демонстрацию работы оборудования
Ваше обращение принято,
в ближайшее время с Вами свяжется
наш специалист