+7 (495) 781-07-85
0 Сравнение EN

Настольные электронные микроскопы

Максимальное разрешение, нм

Максимальное увеличение, х

Ускоряющее напряжение, кВ

Регулировка по Z

Настольные электронные микроскопы

ZEPTOOLS

Развитию направления настольной сканирующей электронной микроскопии в мире поспособствовали некоторые негативные факторы, которые присущи напольной электронной микроскопии: высокая стоимость прибора и обслуживания, сложность эксплуатации, особые требования к оператору и помещению.

Компания ZepTools предлагает своим клиентам несколько модификаций настольных сканирующих электронных микроскопов (СЭМ), способных обеспечить достаточную производительность и получение качественных результатов на исследуемых образцах. Микроскопы ZEM просты в эксплуатации, работе на них можно обучить любого желающего. Компания ZepTools самостоятельно разработала основные компоненты микроскопов ZEM: электронно-оптическую систему, детекторы, систему управления, систему сбора сигналов и программное обеспечение. Благодаря тому, что в основной блок микроскопа интегрирована вакуумная камера со столиком для установки образцов, турбомолекулярный насос, высоковольтная система и система управления, ZEM представляют собой достаточно компактные настольные сканирующие электронные микроскопы, не требующие особых условий для установки.
Настольный СЭМ ZEM15 – это микроскоп с термоэмиссионным источником электронов из вольфрамовой нити, удобным и интуитивно понятным управлением, быстрым получением изображений и стабильной производительностью. Его продвинутая версия, ZEM18, отличается от ZEM15 расширенным диапазоном ускоряющего напряжения и улучшенным разрешением, что позволяет проводить качественный ЭДС-анализ образцов, содержащих тяжелые элементы, а также получать изображения при большем увеличении.
Последняя разработка компании ZepTools – настольный СЭМ ZEM20 – отличается от предыдущих моделей дополнительным увеличением диапазона ускоряющего напряжения и более высоким разрешением. Микроскоп также может быть оснащен пятиосевым моторизованным столиком для позиционирования образца, ИК-камерой для наблюдения за перемещением образца и режимом низкого вакуума. В перспективе может быть произведена замена источника электронов на гексаборид лантана (LaB6), что повысит качество получаемого изображения.

События

03 - 24 апреля 2024
г. Москва
Практическое применение аналитического оборудования для исследования и контроля качества материалов
Серия вебинаров в апреле
24-25 апреля 2024
г. Астана, Казахстан
Практический семинар по микроскопии, спектральному анализу и механическим испытаниям
Новинки, уникальные решения и применение оборудования.
21 - 22 мая 2024
г. Санкт-Петербург
Практический семинар "Новейшие разработки в области аналитического оборудования для исследования качества материалов"
Новинки, уникальные решения и применение оборудования.
29 - 30 мая 2024
г. Москва
Семинар «Современное аналитическое оборудование для химического, структурного анализа»
Новинки, уникальные решения и применение оборудования.
04-06 июня 2024
г. Москва
Выставка "Литмаш. Металлургия"
Международная выставка лабораторного оборудования и химических реактивов
24 — 28 июня 2024
г. Екатеринбург
Курс «Рентгенофлуоресцентный анализ: теория и практика»
сертификат государственного образца о прохождении курса
25-27 июня 2024
г. Караганда, Казахстан
Выставка Mining Week Kazakhstan
19-я международная выставка технологий и оборудования для горно-металлургического комплекса и рационального использования недр.
18 - 20 июня 2024
г. Москва
Семинар «Современное оборудование для материалографических исследований»
Практическое применение. Работа с образцами.

Не хотите ждать?

Приходите к нам в демозал с образцами и лично убедитесь
в высоком качестве предлагаемого оборудования.

Также мы можем провести для Вас online демонстрацию работы оборудования