+7 (495) 781-07-85
0 Сравнение EN

Стилусные профилометры

Тип

Диаметр образца (пластины), мм

Перемещение столика по X-Y, мм

Стилусные профилометры для анализа структуры и поверхности

Измерительные системы на базе стилусного профилометра обеспечивают анализ структуры и поверхности, включая определение толщины пленки, глубины канавок, высоты ступенек, профиль поверхности и другие схожие комплексные задачи, для задач производства и разработки новых материалов. Области применения: производство полупроводников, солнечная энергетика, светодиоды, оптоэлектроника, биомедицинские устройства, МЭМС, химия тонких пленок, плоские дисплеи, производство сенсорных экранов, задачи материаловедения и т.д.

Основные виды исследований:

  • высота ступени: возможность точно измерять высоту ступеньки от нанометров и высотой до 80 мкм, а так же точно измерять толщины материалов, нанесенных или удаленных с помощью различных процессов, таких как осаждение и травление;
  • шероховатость и волнистость:  можно измерять шероховатость и плоскостность образца. Путем расчета просканированной кривой микропрофиля поверхности, программное обеспечение системы получает все необходимые параметры, связанные с шероховатостью и волнистостью (Ra, RMS, Rv, Rp, Rz);
  • деформация и форма: возможность измерения коробления и 2D-формы поверхности образца;
  • стресс-тест: проверка радиуса кривизны поверхности, например, до и после нанесения покрытия, и расчёт индуцированного напряжения пленки;
  • 3D-сканирование: систему можно настроить на автоматическое сканирование определенной области образца для создания 3D-изображения топографии поверхности.

ZepTools — это компания, заслужившая доверие и признание благодаря своим инновационным решениям в области настольной сканирующей электронной микроскопии (СЭМ). Наши микроскопы серии ZEM предназначены для обеспечения высокой производительности и получения качественных результатов на исследуемых образцах, что делает их идеальными для самых разнообразных приложений.

Преимущества микроскопов ZepTools

  • Простота эксплуатации: микроскопы ZEM разработаны так, чтобы любой желающий мог быстро освоить работу с ними. Интуитивно понятное управление и дружественный интерфейс позволяют сократить время на обучение операторов.
  • Инновационные технологии: ZepTools самостоятельно разработала ключевые компоненты своих микроскопов, включая электронно-оптическую систему, детекторы, систему управления, систему сбора сигналов и программное обеспечение. Это позволяет нам обеспечивать высочайший уровень качества и надежности.
  • Компактность и удобство установки: в основной блок микроскопа интегрированы вакуумная камера со столиком для установки образцов, турбомолекулярный насос, высоковольтная система и система управления. Благодаря этому наши микроскопы являются компактными и не требуют особых условий для установки, что значительно упрощает их использование в лабораториях и исследовательских центрах.
Помимо производства настольных электронных микроскопов серии ZEM, специализированных  столиков для in-situ исследований в СЭМ и держателей для ПЭМ, компания производит современные и точные стилусные профилометры серии JS в различных модификациях: от настольной модели с ручным управлением до полностью автоматических решений для задач микроэлектроники.

События

05 - 26 февраля 2025
г. Москва
Практическое применение аналитического оборудования для исследования и контроля качества материалов
Серия вебинаров в феврале
18-19 февраля 2025
г. Москва
Семинар «Современное оборудование для материалографических исследований»
Практическое применение. Работа с образцами.
12-13 марта 2025
г. Пермь
Новейшие разработки в области аналитического оборудования  для исследования и контроля качества материалов
Новинки, уникальные решения и применение оборудования.
25-27 марта 2025
г. Москва
Выставка "Композит-Экспо"
Международная специализированная выставка
09 - 10 апреля 2025
г. Москва
Семинар «Современное аналитическое оборудование для химического, структурного анализа»
Новинки, уникальные решения и применение оборудования.
15-17 апреля 2025
г. Москва
Выставка "ExpoElectronica"
Международная выставка электроники
23-24 апреля 2025
Казахстан, г. Астана
Семинар «Новейшие разработки в области аналитического оборудования для исследования и контроля качества материалов»
Новинки, уникальные решения и применение оборудования.
23-25 апреля 2025
г. Москва
Выставка "Аналитика Экспо"
Международная выставка лабораторного оборудования и химических реактивов

Не хотите ждать?

Приходите к нам в демозал с образцами и лично убедитесь
в высоком качестве предлагаемого оборудования.

Также мы можем провести для Вас online демонстрацию работы оборудования