Настольный сканирующий электронный микроскоп ZEM18

Настольный сканирующий электронный микроскоп ZEM18 получил расширенный диапазон укоряющего напряжения с верхней границей в 18 кВ, что позволяет получать более точные результаты по элементному анализу тяжелых элементов. Компактные размеры и эргономичный дизайн обеспечивают простоту использования, возможность установки СЭМ на обычный стол в любом помещении — как в офисе, так и на производстве. Источник электронов — вольфрамовая нить — позволяет пользователю проводить замену катода микроскопа самостоятельно.

Основные преимущества:

• разрешение и увеличение соответствуют большинству требований к тестированию образцов с помощью электронной микроскопии;
• продвинутые возможности анализа элементного состава;
• высокая помехоустойчивость к вибрации и магнитным полям, нет необходимости в специальной среде для установки;
• простота в эксплуатации, быстрая загрузка и замена образца, а также возможность дооснащения специальными столиками для испытаний;
• низкая стоимость и простая замена источника электронов – вольфрамовой нити со сроком работы до 100 часов.