nanoVoxel-1000

Система nanoVoxel-1000 — это настольная прецизионная система компьютерной микротомографии с разрешением до 300 нм. Система обеспечивает самое высокое разрешение среди всех классических систем томографии и благодаря этому позволяет проводить специальные исследования образцов, для которых требуется высокое разрешение, но не требуется высокая мощность, как для образцов большой радиационной толщины и плотности. Система хорошо подходит для применений в исследовательских лабораториях, прецизионных исследований кернов, руд, геологических объектов.

Основные преимущества:

• система с минимальным фокусным пятном (от 300 нм), которая обеспечивает высокое разрешение пикселя при измерении объектов контроля;
• длительный срок службы и минимальное сервисное обслуживание системы благодаря закрытому источнику рентгеновского излучения;
• уникальная система защиты от вибраций для проведения измерений во время движения;
• компактные размеры системы позволяют использовать ее не только в лаборатории, но и в полевых условиях или на транспортных средствах;
• возможность установки на манипулятор микротомографа габаритных изделий весом до 15 кг.

Применение:

• измерение толщины стенок изделий с целью проведения метрологических исследований;
• исследование причин неисправностей и отказов готовых изделий;
• анализ пустот и включений в геологических объектах и изделиях из металлов, сплавов, и композитов;
• контроль целостности и правильности сборки готового изделия на конечном этапе производства и при входном контроле;
• исследование изменений плотности материалов изделий (по поверхности, глубине и т. д. в металлах, стеклах и пр.) после различных процессов термообработки;
• сравнение 3D-сканирования изделия с исходной моделью, созданной в САПР (CAD);
• обратный инжиниринг для создания САПР-модели (CAD-модели) по результатам томографии реального образца;
• моделирование различных испытаний (механических, тепловых, аэродинамических и т. д.) с математической обработкой методом конечных элементов;
• контроль качества сварных и паяных соединений;
• исследование структур геологических образцов для контроля различных фаз, литотипов, коллекторов;
• исследование петрофизических свойств горных пород;
• исследование плотности, пористости, однородности, изотропности и других характеристик геологических образцов.