Глины играют большую роль в генезисе рудных тел, построении карт недропользования, а часто и сами выступают как полезные ископаемые. Основные компоненты глин — это гидрированные алюмосиликаты, то есть структуры чередующихся тетраэдрического (Si4+ ион) и октаэдрического (Al3+, Fe3+ ионы) слоев. Для исследования глин применяется рентгеновская дифракция. Размер ячейки по оси Z, то есть сумма толщин слоев, различается от глины к глине и является диагностическим. Поэтому желательно усилить базальное (00l) отражение, что делают с помощью сложной пробоподготовки, которая может отличатся для каждого типа глины. Такие базальные отражения соответствуют наибольшему межплоскостному расстоянию в элементарной ячейке и находятся в малых углах на дифракционной картине.
Эта область сложная для измерения, потому что на ней присутствует влияние прямого рентгеновского пучка. Так как глина мелкодисперсная и ее пики довольно широкие, то их сложно отделить от яркого прямого пучка. Давно зарекомендовавшая себя, надежная и простая геометрия расходящегося пучка позволяет детектировать пики от нескольких градусов. Однако, новые открываемые минералы имеют все большие размеры элементарных ячеек, а значит еще меньшие углы дифракции.
Кроме того, усиление базального пика искажает результаты количественного фазового анализа. Недавно было показано, что суммирование дифрактограмм, полученных при различных азимутальных углах в геометрии параллельного пучка позволяют нивелировать искажение интенсивностей и уменьшить минимальный угол эксперимента.
Компания Мелитэк представляет дифрактометр TD-3700, оснащённый столиком Эйлера и оптикой параллельного пучка (Рис. 1), позволяющей использовать такую методику. Для оценки возможностей прибора, были проведены тестовые измерения в области малых углов эталонного образца с размером ячейки около 60 Å (Рис. 2). Видно, что падение интенсивности происходит уже в 0.4°, что достаточно для обработки даже такой большой ячейки.
Ваше обращение принято,
в ближайшее время с Вами свяжется
наш специалист