Применение профилометров от компании Nanovea

Фрактография — это изучение особенностей изломов. Обычно ее проводят с помощью оптического или электронного микроскопа. В зависимости от задач для анализа поверхности выбирается оптический микроскоп (стерео) или электронный. И то, и другое, в конечном итоге позволяет идентифицировать тип механизма разрушения.
Несмотря на свою эффективность, оптический микроскоп имеет ограничения, а электронный в большинстве случаев, за исключением анализа на атомном уровне, неудобен для измерения поверхности.

Благодаря достижениям в области оптических измерительных технологий бесконтактный 3D профилометр Nanovea считается предпочтительным прибором для исследования изломов благодаря его способности проводить измерения поверхности в нано- и макромасштабе в 2D и 3D.

В отличие от электронного микроскопа, 3D бесконтактный профилометр может измерять практически любую поверхность образца с минимальной подготовкой. С помощью профилометра характеристики в диапазоне от нано- до макрофиксируются за одно измерение с нулевым влиянием отражательной способности образца.
С помощью 3D бесконтактного профилометра можно точно охарактеризовать полную топографию (нано-, микро и макроэлементы) поверхности излома. Кроме того, Nanovea включила портативную версию в свою линейку профилометров, что особенно важно для работы в полевых условиях.

Подробнее о профилометрах Nanovea здесь.