Для исследования свойств и особенностей материалов в динамике, требующих изменения (повышения) его температуры, и наблюдения за процессом расплавления и кристаллизации, применяются встраиваемые в электронный микроскоп специализированные столы. В настольном сканирующем электронном микроскопе ZEM15 от компании Zeptools реализованы подобные решения для динамических испытаний внутри микроскопа, производимые на собственном производстве. Для установки в СЭМ ZEM15 доступны:
- керамический столик для нагрева образца до 800 °C, позволяющий контролировать температуру и скорость нагрева, позволяя проводить расширенный анализ процессов, происходящих с образцом или его поверхностью при повышении температуры,
- нагревательный стол на МЭМС, для осуществления быстрого нагрева микро-образцов до 1000°C.
Подробнее о СЭМ ZEM15 здесь.
