Высокоскоростной микроскоп СЭМ SM-60 от компании Melytec

Представляем новый высокоскоростной сканирующий электронный микроскоп для перекрестной визуализации образцов большой площади с термополевым катодом типа Шоттки. Прибор выпускается в модификациях для применения в микроэлектронике, биологии и в качестве универсального материаловедческого микроскопа.

Автоматизированный рабочий процесс предназначен для получения изображений с высоким разрешением на больших площадях со скоростью в 5 раз выше, чем у обычного сканирующего электронного микроскопа с термополевой эмиссией. Для достижения высокоскоростного получения изображений с нанометровым разрешением СЭМ Melytec SM-60 оснащен электронной пушкой высокой яркости, высокоскоростной системой отклонения электронного луча, системой торможения пучка на предметном столике и иммерсионной комбинированной линзой.

Главные особенности новинки:

• скорость сканирования до 2х100 Мпиксел/секунду;

• поле зрения 64 х 64 мкм при разрешении 4 нм;

• технология двойного торможения пучка для обеспечения минимальных искажений при работе с низко-энергетичными электронами.