Электронное изображение и элементное картирование поперечного сечения печатной платы с помощью настольного СЭМ ZEM20

По сравнению с оптическими микроскопами, электронная микроскопия предоставляет более комплексные и детальные средства наблюдения и анализа для контроля надежности продукта и анализа неисправностей. Настольные сканирующие электронные микроскопы ZEM обеспечивают более высокое разрешение и увеличение, что подходит для исследования микроструктуры и небольших дефектов, при этом скорость получения изображения достаточно высока, что важно для своевременного контроля качества в процессе изготовления печатных плат.

В дополнение к изображениям с высоким разрешением и увеличением, микроскоп может обеспечить пользователя расширенной информацией о элементном составе в выбранной точке, с помощью устанавливаемого энергодисперсионного спектрометра (ЭДС). Благодаря точной идентификации и быстрому определению элементного состава поверхности печатной платы и приповерхностных областей мы можем идентифицировать поверхностные загрязнения, диагностировать проблемы в производственном процессе и анализировать качество гальванического слоя, чтобы быстро обнаружить проблему и принять соответствующие меры, что также повышает точность обнаружения незначительных дефектов или загрязнений и еще больше повышает контроль качества процесса изготовления печатной платы.

Подробнее о настольных электронных микроскопах.

Узнать цену на сканирующий электронный микроскоп ZEM20.