Неотъемлемой частью исследований в электронной микроскопии является возможность определять элементный состав образца в точке, по площади или по линии в микро и макро объемах с помощью энергодисперсионного спектрометра (ЭДС). В настольный сканирующий электронный микроскоп ZEM15 может быть опционально установлен дополнительный ЭДС детектор, значительно расширяющий возможности исследований, которые можно будет проводить с широким спектром образцов.
Характеристики спектрометра могут быть, как базовые (анализ в точке, по площади, в линии и элементное картирование), так и расширенные, включающие автоматический анализ частиц. Основная версия спектрометра включает площадь окна до 30 мм2, а разрешение 129 эВ. Спектрометр охлаждается без использования жидкого азота (Пельтье), диапазон анализа элементов: от Бора B(5) до Калифорния Cf(98).
Подробнее о СЭМ ZEM15 здесь.
Ваше обращение принято,
в ближайшее время с Вами свяжется
наш специалист