Применение настольного сканирующего электронного микроскопа ZEM20 от компании Zeptools

Настольный сканирующий электронный микроскоп (СЭМ) ZEM20, разработанный компанией Zeptools, стал идеальным инструментом контроля морфологии элементов микросхем и обнаружения дефектов полупроводниковой промышленности, благодаря высокому разрешению изображения и увеличению.

С помощью настольного СЭМ ZEM20 можно четко увидеть загрязнения и царапины на поверхности микросхемы, а также выявить крошечные трещины в зоне соединения выводов, обеспечивая мощную техническую поддержку для контроля качества и оптимизации процессов производства полупроводниковых устройств.

Изображение элементов микросхем.

Приведенные на рисунках результаты показывают, что на поверхности кремниевой пластины имеются определенные механические повреждения и загрязнения, которые могут быть вызваны неправильным процессом подготовки и сборки. Также было подтверждено, что настольный СЭМ ZEM20 может эффективно выявлять мелкие дефекты на поверхности кремниевых пластин, обеспечивая основу для оптимизации процесса и повышения качества.

Электронное изображение с высоким разрешением и различные режимы детектирования делают настольный СЭМ ZEM20 идеальным инструментом для контроля качества различных типов частиц, что обеспечивает гарантию повышения качества продукта и ускорения массового производства.

Подробнее о СЭМ ZEM 20 здесь.