Настольный СЭМ ZEM15 обладает возможностью дооснащения специализированным столом для испытаний на растяжение/сжатие непосредственно внутри камеры микроскопа, что позволяет проследить весь процесс деформации образцов при высоком увеличении.
Помимо получения обычной информации о параметрах процесса (прикладываемой силе, расстоянии или времени) вы получаете действительную картину происходящего в реальном времени со структурой материала при большом увеличении, до 150 000х.
Особенности:
- возможность проведения испытаний на растяжение и сжатие внутри электронного микроскопа;
- визуализация процесса деформации или разрыва исследуемого объекта;
- усилие на разрыв может достигать до 1000Н.
Подробнее о СЭМ ZEM15 здесь.
