Анализ изломов с помощью СЭМ ZEM18 от компании ZEPTOOLS

Сканирующая электронная микроскопия расширяет и дополняет возможности световой микроскопии в области оценки и изучения морфологии изломов и развитых поверхностей объектов. Возможностей световой микроскопии не всегда достаточно для изучения микроструктур и небольших объектов, размеры которых менее одного микрона.
Благодаря сканирующей электронной микроскопии, становится возможным получать изображения поверхности с увеличениями в десятки тысяч раз, а также, обладая энергодисперсионным спектрометром, проводить детальное и прецизионное исследование микрообъектов и включений на поверхности изломов.
Настольные сканирующие электронные микроскопы от компании Zeptools позволяют проводить экспресс анализ изломов, а также объектов с развитой поверхностью. На примере настольного СЭМ ZEM18, мы провели несколько исследований изломов и получили результаты, позволяющие сделать выводы о характере разрушения образцов и их свойствах.

Подробнее о СЭМ ZEM18 здесь.