Анализ толщин стенок объектов сложной формы с применением настольного рентгеновского компьютерного томографа nanoVoxel-1000 от компании Sanying

Для изделий совершенно различных применений такая характеристика как толщина стенки может являться критической. Многие из них обладают сложной формой или внутренней структурой, которую невозможно измерить с применением классических методов контроля геометрии. Рентгеновский томограф Sanying позволяет производить измерения полного перечня геометрических параметров внутри исследуемого объекта контроля, не подвергая его разрушению или разборке.

Специализированное программное обеспечение позволяет обрабатывать полученные томографические данные и выполнять объемный анализ толщины деталей автоматически. Анализ доступен с помощью лучевого метода для деталей с простыми формами, либо с помощью сферического метода для более органических форм, включая сложные детали, напечатанные на 3D-принтере.

Лучевой метод дает наилучшие результаты для деталей с почти параллельными поверхностями. Рассчитывает значения толщины стенок для указанного диапазона толщины посредством поиска противолежащей поверхности для каждой точки на поверхности. Полученные значения толщины представляют собой наикратчайшие расстояния между поверхностями.

Для органических, искривленных или даже ветвящихся поверхностей предпочтительнее использовать сферический метод. Особенно для сложных 3D-печатных форм, топологически оптимизированных, генеративно спроектированных или даже решетчатых структур. В сферическом методе для каждого вокселя алгоритм ищет наибольшую вписанную сферу, которая может быть расположена в любом месте в пределах поверхности, но должна включать в себя центр вокселя.

Отображение результатов в виде цветовой кодировки помогает локализовать области с недостаточной или чрезмерной толщиной стенки непосредственно в воксельном наборе данных. Программное обеспечение позволяет задать допуски для автоматизированного анализа (минимум, максимум, среднее значение, отклонение).

Рисунок 1 — Томографические данные сложно профильного тонкослойного изделия.
Рисунок 2 — Трехмерное отображение анализа толщины стенок.
Рисунок 3 — YX сечение объекта с проведенным анализом толщины стенок.
Рисунок 4 — ZY сечение объекта с проведенным анализом толщины стенок.

Подробнее о томографах Sanying здесь.