Двулучевой ФИП-СЭМ DB-50 от компании Melytec

Melytec DB-50 — это двулучевой сканирующий электронно-ионный микроскоп высокого разрешения с катодом с термополевой эмиссией типа Шоттки. Прибор обладает широкой вакуумной камерой и большим предметным столом, удобной оптической навигацией по образцам, имеет широкий выбор детекторов, а также порты для установки различного дополнительного аналитического оборудования и проведения динамических экспериментов (нагрев, охлаждение, сжатие, растяжение и т. д.).

Высоковольтная туннельная технология SuperTunnel и отсутствие магнитной объективной линзы позволяют получать изображения с высоким разрешением на низких ускоряющих напряжениях, в том числе проводить анализ магнитных образцов.

Ионная колонна (ФИП) дает не только возможность получения кросс-секций, но и при наличии наноманипулятора (опция) позволяет готовить ПЭМ-образцы с высокой степенью локализации исследуемых объектов, с их последующим анализом как локально с помощью СПЭМ-детектора (опция), так и удаленно на ПЭМ сверхвысокого разрешения.

Оптическая навигация, функции автоматизации, хорошо продуманный пользовательский интерфейс, оптимизированные рабочие процессы, даже при отсутствии опыта эксплуатации прибора, можно быстро приступить к работе и выполнять исследовательские задачи с гарантированно качественным результатом.

Подробнее о системах Melytec здесь.