+7 (495) 781-07-85
0 Сравнение EN

Исследование образцов в условиях низкого вакуума с помощью настольного СЭМ ZEM20 от компании Zeptools

9 янв 2024

СЭМ ZEM20.jpg

По сравнению с традиционной высоковакуумной сканирующей электронной микроскопией, низковакуумная электронная микроскопия позволяет непосредственно наблюдать образцы, которые могут содержать влагу, являются пористыми или непригодны для напыления проводящего слоя, что дает возможность наблюдать более широкий спектр образцов и значительно расширяет сферу применения сканирующей электронной микроскопии. Для биологических образцов низковакуумная электронная микроскопия позволяет непосредственно наблюдать образцы, которые не устойчивы к электронному лучу и не подходят для напыления золота.

Принцип, лежащий в основе этого, заключается в том, что традиционная высоковакуумная сканирующая электронная микроскопия требует получения изображений образцов в состоянии высокого вакуума, но при этом, ряд образцов может быть поврежден или на их поверхности может появиться значительный зарядовый эффект в условиях высокого вакуума. Для создания низкого вакуума, в камере для образцов давление устанавливается в пределах 30 Па (высокий вакуум составляет 10-4 Па) путем добавления определенного количества газа в камеру. В это время избыточные электроны на образце будут нейтрализованы ионами газа, что позволит избежать накопления заряда и сохранить четкость изображения.

Рис. 1 Пример изображений непроводящих образцов в высоком и низком вакууме.jpg   Рис. 2 Пример изображений непроводящих образцов в высоком и низком вакууме.jpg

Являясь одним из пионеров настольной сканирующей электронной микроскопии в Китае, компания Zeptools недавно выпустила настольный СЭМ ZEM20, оснащённый системой для работы в условиях низкого вакуума и камерой для образцов, которая реализует функцию сканирования с высоким разрешением в условиях низкого вакуума для получения четких изображений.

Настольный сканирующий электронный микроскоп ZEM20 , оснащенный системой работы в низком вакууме, обеспечивает прямой и эффективный метод определения характеристик широкого спектра образцов, что значительно расширяет сферу применения сканирующей электронной микроскопии, особенно в области исследований полезных ископаемых, керамики, биомедицины, фармацевтики, искусства и схожих по характеристикам образцов.

Подробнее о СЭМ ZEM20 здесь.