Двулучевой ФИП-СЭМ DB-50 от компании Melytec

Модернизированная версия двулучевого сканирующего электронно-ионного микроскопа высокого разрешения Melytec DB-50, оснащенного термополевым катодом типа Шоттки, теперь доступна на рынке. Улучшено разрешение прибора: оно составляет 0,9 нм при 15 кВ и 1,6 нм при 1 кВ во вторичных электронах.

Прибор оборудован режимом торможения пучка тормозящим полем предметного стола, что в сочетании с системой Super-Tunnel расширяет его функциональные возможности и спектр исследуемых образцов при работе с электронами энергией менее 1 кэВ. Количество портов для установки дополнительного оборудования увеличено до 24, что предоставляет больше возможностей для модернизации.

Микроскоп также получил более просторную вакуумную камеру и новый высокоточный предметный стол. Максимальный диаметр образца теперь составляет 300 мм, что позволяет исследовать крупные объекты с высокой детализацией.