Режим торможения луча в настольном СЭМ ZEM18 от компании Zeptools

В сканирующих электронных микроскопах используются различные методики и опции для визуализации рельефа и анализа сложных поверхностей. Одним из таких методов является режим торможения луча.

На столик с образцом подается обратное напряжение, за счет чего, энергия посадки электронов уменьшается до сотен вольт, при этом сохраняется форма и размер пятна электронного луча. Режим торможения луча даёт ощутимую прибавку к резкости изображения на некоторых образцах и позволяет визуализировать более чётки и контрастные границы объектов.

Данная опция будет добавлена в ZEM18 и ZEM20.

Подробнее о СЭМ ZEM здесь.