Сканирующий электронный микроскоп SM-40 от компании Melytec

Melytec SM-40 — аналитический мультифункциональный сканирующий электронный микроскоп высокого разрешения с катодом высокой яркости на термополевой эмиссии типа Шоттки, предназначенный для решения фундаментальных и прикладных задач в различных областях науки и техники.

Трехуровневая конструкция магнитной линзы и высокий ток пучка до 200 нА с плавной регулировкой обеспечивают значительные преимущества для работы с системами EDS, EBSD, WDS и других приложений, а немагнитная объективная линза позволяет исследовать магнитные материалы на малых рабочих отрезках. Микроскоп способен генерировать и собирать всю доступную информацию для любого типа материала и визуализировать структуру поверхности различных образцов благодаря наличию режима низкого вакуума (опция). Прибор обладает широкой вакуумной камерой и большим предметным столом со съёмным RTZ-модулем, удобной оптической навигацией по образцам, имеет широкий выбор детекторов, а также порты для установки различного дополнительного аналитического оборудования и проведения динамических экспериментов (нагрев, охлаждение, сжатие, растяжение и т.д.).

Оптическая навигация, автоматические функции, продуманный пользовательский интерфейс, оптимизированные процессы эксплуатации и использования — независимо от того, есть у вас опыт работы или нет, вы можете быстро приступить к работе и получать качественные результаты.

Подробнее о системах Melytec здесь.