Сканирующий электронный микроскоп ZEM18 от компании Zeptools в микроэлектронной индустрии

В связи с развитием микроэлектронной индустрии, печатные платы и элементы, размещаемые на них, являются важными компонентами производства электронных изделий, а их качество напрямую влияет на производительность и надежность оборудования. При производстве и использовании печатных плат могут возникать проблемы такие, как некачественная сварка, короткое замыкание, обрыв цепи, неравномерное расстояние между компонентами и другие дефекты. Для улучшения качества печатных плат требуется всестороннее тестирование и современный контроль качества.

В настоящее время оптическая микроскопия является основным средством контроля печатных плат, но из-за недостаточного разрешения световой оптики при уменьшении технологических процессов, зачастую, становится трудно наблюдать мелкие дефекты на микронном или даже субмикронном уровне. Настольные сканирующие электронные микроскопы серии ZEM, разработанные компанией Zeptools, имеют достаточное разрешение и увеличение, которое позволяет четко представлять тонкую структуру поверхности печатной платы и визуальное обнаружение проблем с качеством сборки. Благодаря характеристикам сканирующей электронной микроскопии, пользователь может не только получать изображения поверхности или профиля печатной платы с высоким увеличением и разрешением, а также проводить поиск и контроль дефектов, с возможностью определения элементного состава в выбранной точке, с точностью, до нескольких микрон.

Подробнее о СЭМ ZEM18 здесь.