Универсальный микроскоп RX50M применяется не только в материалографии, но и в микроэлектронике, если образцы не превышают размер области перемещения предметного столика, а именно 100×100 мм.
Полный набор методов контрастирования (BF, DF, POL, DIC) обеспечивает получение максимально подробной информации о поверхности и ее морфологии в диапазоне увеличений 20-1000х и диапазоне поля зрения 12,5 0,25 мм соответственно.
При необходимости получения панорамного изображения полупроводникового образца микроскоп оснащается системой моторизации столика и привода фокусировки.
Рис. 1. Сенсор камеры мобильного телефона, объектив 5х, темное поле.
Рис. 2-3. Сенсор камеры мобильного телефона, объектив 50х, светлое поле.
Рис. 4. Сенсор камеры мобильного телефона, объектив 100х, светлое поле.
Подробнее о микроскопе SOPTOP RX50 здесь.
Ваше обращение принято,
в ближайшее время с Вами свяжется
наш специалист