Сканирующий электронный микроскоп SM-33

СЭМ SM-33 – высокопроизводительный прибор, созданный в первую очередь для исследования наноматериалов, нанодисперсных порошков, тонкопленочных структур, а также легких элементов. Отличительной особенностью данной модели является наличие внутрилинзового детектора, что позволило повысить разрешение микроскопа на низких ускоряющих напряжениях до значений, ранее недоступных для термоэмиссионных приборов. Высоковольтная туннельная технология (SuperTunnel), конструкция объектива с низкой аберрацией и отсутствие магнитной объективной линзы позволяют получать изображения высокого разрешения на низких ускоряющих напряжениях, в том числе проводить анализ магнитных образцов. Все это в сочетании с невысокой стоимостью делает SM-33 идеальным решением для исследований в области нанотехнологий и создания новых материалов. 

Основные преимущества:

• уникальная конструкция колонны с внутрилинзовым детектором значительно улучшает разрешение и качество изображения при низком ускоряющем напряжении;
• электромагнитная композитная линза и технология высоковольтного туннеля (SuperTunnel): энергия электронов в туннеле снижается тормозящим полем, при этом ускоряющее напряжение остается достаточно высоким;
• термостатированный объектив с водяным охлаждением для стабильных условий съемки и минимизации температурного дрейфа изображений;
• большая рабочая камера;
• навигационная камера уже в базовой комплектации;
• системы автоматизации для качественной визуализации и настройки систем микроскопа;
• шлюз для быстрой смены образцов шириной до 208 мм.