Тип микроскопа | Сканирующий |
---|---|
Область применения | Материаловедение, Междисциплинарные научные центры, Науки о живом |
Направление деятельности | 2D-анализ, Автоматизированный анализ частиц и включений, Биология, Геология, Медицина, Междисциплинарный мультимодальный и мультимасштабный анализ |
Объекты интереса | 11 нм – 100 нм |
SM-60 – высокоскоростной полностью автоматизированный термополевой сканирующий электронный микроскоп, предназначенный для высокоскоростного получения изображений с наноразмерным разрешением.
В приборе использованы следующие технологии:
– электронная пушка с большим током и высокой яркостью;
– высокоскоростная система отклонения электронного луча;
– система замедления луча на образце;
– динамическая оптическая ось и иммерсионный комбинированный, электромагнитный и электростатический, объектив.
Автоматизированный рабочий процесс предназначен для решения задач, требующих эффективного и интеллектуального получения изображений с высоким разрешением на больших площадях. Скорость получения таких изображений более чем в пять раз выше, чем у обычного сканирующего электронного микроскопа с термополевой эмиссией.
Основные преимущества:
Тип микроскопа | Сканирующий |
---|---|
Область применения | Материаловедение, Междисциплинарные научные центры, Науки о живом |
Направление деятельности | 2D-анализ, Автоматизированный анализ частиц и включений, Биология, Геология, Медицина, Междисциплинарный мультимодальный и мультимасштабный анализ |
Объекты интереса | 11 нм – 100 нм |
Тип катода | Термополевой катод типа Шоттки |
Максимальное разрешение, нм | 1,5 |
Диапазон ускоряющего напряжения, В | 100 - 30 000 |
Максимальный ток зонда, нА | 20 |
Пятиосевой моторизованный | Нет |
Пятиосевой моторизованный эвцентрический | Нет |
Трёхосевой моторизованный | Нет |
Максимальный вес образца, г | 500 |
Максимальный диаметр образца, мм | 100 |
Ход по осям X и Y, мм | 110 × 110 |
Воспроизводимость по осям X и Y, мкм | < 0,6 |
Ход по оси Z, мм | 16 |
Детектор вторичных электронов Эверхарта-Торнли | Нет |
ИК-камера для наблюдения положения образца в камере | Есть |
Навигационная камера высокого разрешения | Есть |
Интегрированная система измерения тока луча | Есть |
Детектор вторичных электронов для низкого вакуума (LVD) | Нет |
Внутрилинзовый детектор | Есть |
Детектор обратно-отраженных электронов (BSED) | Есть |
Детектор прошедших электронов (STEM) | Нет |
Детектор для катодолюминесценции (CL) | Нет |
Детектор Raman | Нет |
ЭДС | Нет |
ДОРЭ | Нет |
ВДС | Нет |
Высокий вакуум, Па | < 5,0 × 10-6 |
Низкий вакуум, Па | Нет |
Безмасляная вакуумная система | Есть |
Литография | Нет |
Крио-СЭМ | Нет |
Манипулятор | Нет |
Зондовые станции | Нет |
Панель управления микроскопом | Опция |
Трекбол | Опция |
Столик для охлаждения | Нет |
Столик для нагрева | Нет |
Столик для растяжения/сжатия | Нет |
Вакуумный шлюз | Опция |
Функция замедления пучка | Есть |
Приходите к нам в демозал с образцами и лично убедитесь в высоком качестве предлагаемого оборудования.
Мы можем провести для Вас online демонстрацию работы оборудования
Ваше обращение принято,
в ближайшее время с Вами свяжется
наш специалист