Сканирующий электронный микроскоп SM-40

SM-40 — это мультифункциональный аналитический сканирующий электронный микроскоп, оснащенный термополевой пушкой типа Шоттки с высокой яркостью и длительным сроком службы. Трехступенчатая конструкция магнитной линзы с током луча до 200 нА и плавной регулировкой обеспечивает значительные преимущества при работе с системами ЭДС, ВДС, ДОЭ и других приложений. Вакуумная система поддерживает режим низкого вакуума для прямого наблюдения поверхности непроводящих образцов. Режим оптической навигации и интуитивно понятный пользовательский интерфейс значительно упрощают получение качественных результатов даже для неопытных пользователей.

Основные преимущества:

• оснащен электронной пушкой с термополевой эмиссией типа Шоттки, обладающей высокой яркостью и длительным сроком службы;
• разрешение - менее 0,9 нм при 30 кВ;
• трехступенчатая конструкция магнитной линзы. Максимальный ток пучка 200 нА, широкий диапазон регулировки;
• режим низкого вакуума и высокоэффективный низковакуумный детектор вторичных электронов для наблюдения непроводящими образцами;
• немагнитная объективная линза позволяет осуществлять прямое наблюдение за магнитными образцами;
• эвцентрический высокоточный предметный столик;
• шлюз для быстрой смены образцов шириной до 208 мм