Интегрированный сило-электроизмерительный комплекс

Система предназначена для расширения функционала просвечивающего электронного микроскопа. С помощью данного держателя можно манипулировать отдельной наноструктурой и проводить электрические измерения. Комплекс позволяет с высокой точностью определять кристаллическую структуру образца во время проведения электрических измерений, обеспечивая всестороннюю характеристику химических компонентов и валентных состояний элементов.

Параметры электрических измерений:

• Содержит блок измерения тока и напряжения；
• Диапазон измерения тока: 1 нА-30 мА, 9 диапазонов；
• Текущее разрешение: лучше, чем 100 fA；
• Диапазон выходного напряжения: ± 10 В в обычном режиме, ± 150 В в режиме высокого напряжения；
• Автоматическое измерение тока-напряжения (I-V) и текущего времени (I-t).

Параметры зондового манипулятора：

• Диапазон грубой регулировки: 2,5 мм в направлении XY, 1,5 мм в направлении Z；
• Диапазон точной настройки: 18 мкм в направлении XY, 1,5 мкм в направлении Z；
• Разрешение точной настройки: 0,4 нм в направлении XY и 0,04 нм в направлении Z.

Параметры механического датчика：

• Диапазон упругости консольной балки составляет 1 Н/м ~ 100 Н/м.；
• Разрешающая способность по нагрузке лучше, чем 5 нН (при использовании консольной балки 1 Н/м)；
• Автоматическое измерение и сохранение кривой зависимости усилия от расстояния.

Основные преимущества:

• Наличие одновременно модуля электрических измерений и наноманипулятора
• Совместимость с моделями электронных микроскопов разных производителей