Система измерения механики высоких температур

Система высокотемпературных механических измерений для просвечивающего электронного микроскопа (количественное усилие + электричество + трехмерные манипуляции + нагрев) объединяет модуль механических измерений и модуль микросхемы MEMS, которые могут выполнять количественные механические измерения при нагревании образца при температуре до 1000 ℃.

Характеристики механического датчика

• Максимальная нагрузка составляет 100 мН;
• Измеренный шум при измерении усилия до 5 нН (при максимальной нагрузке 0,1 мН);
• Разрешение измерения силы лучше, чем 5 нН;

Параметры нагрева

• Диапазон регулирования температуры: от комнатной температуры до 1000 ℃;
• Температурная стабильность: лучше, чем ±0,1 ℃.

Основные преимущества

• Высокая стабильность. Простое получение изображений с высоким разрешением в крупномасштабном движении, подходящих для более широкого спектра сценариев применения и систем отбора проб
• Длительный срок службы. Запатентованная технология (Тип патента: полезная модель (держатель для образцов в электронном микроскопе in situ с многомерными манипуляциями высокого разрешения и электрическими измерениями) Номер патента: 202020944865.4)