Наши специалисты проведут для Вас индивидуальную бесплатную демонстрацию представленного оборудования и проконсультируют по возможным вопросам.
Криогенная электроизмерительная система предназначена для исследования образцов просвечивающего электронного микроскопа, с помощью которой можно манипулировать отдельной наноструктурой и проводить электрические измерения.
Во время проведения электрических измерений можно динамически и с высокой разрешающей способностью определять кристаллическую структуру образца. Всесторонняя характеристика химических компонентов и валентных состояний элементов, значительно расширяет функции и область применения просвечивающей электронной микроскопии.
Система измерения оснащена блоком контроля низкотемпературной среды на стандартном держателе для образцов ПЭМ.
Параметры электрических измерений:
Характеристики зондового манипулятора:
Характеристики модуля низкой температуры:
Основные характеристики
Приходите к нам в демозал с образцами и лично убедитесь в высоком качестве предлагаемого оборудования.
Мы можем провести для Вас online демонстрацию работы оборудования
Ваше обращение принято, в ближайшее время с Вами свяжется наш специалист