Криогенная электроизмерительная система

Криогенная электроизмерительная система предназначена для исследования образцов просвечивающего электронного микроскопа, с помощью которой можно манипулировать отдельной наноструктурой и проводить электрические измерения.

Во время проведения электрических измерений можно динамически и с высокой разрешающей способностью определять кристаллическую структуру образца. Всесторонняя характеристика химических компонентов и валентных состояний элементов, значительно расширяет функции и область применения просвечивающей электронной микроскопии.

Система измерения оснащена блоком контроля низкотемпературной среды на стандартном держателе для образцов ПЭМ.

Параметры электрических измерений：

• Система оснащена блоком измерения тока и напряжения；
• Диапазон измерения тока: 1 нА-30 мА, 9 диапазонов；
• Текущее разрешение: лучше, чем 100 fA；
• Диапазон выходного напряжения: ± 10В в обычном режиме, ± 150В в режиме высокого напряжения；
• Автоматическое измерение и сохранение параметров тока-напряжения (I-V) и текущего времени (I-t).

Характеристики зондового манипулятора：

• Диапазон грубой регулировки: 2,5 мм в направлении XY, 1,5 мм в направлении Z；
• Диапазон точной настройки: 18 мкм в направлении XY, 1,5 мкм в направлении Z；
• Разрешение точной настройки: 0,4 нм в направлении XY и 0,04 нм в направлении Z.

Характеристики модуля низкой температуры：

• Совместимость с различными моделями просвечивающих электронных микроскопов；
• Структурное разрешение полной температурной зоны лучше, чем 0,2 нм；
• Диапазон регулируемых температур составляет 85К-380К, а температурная стабильность лучше, чем ±0,1К.

Основные характеристики

• Объединяет в себе модуль электрических измерений, наноманипулятор и блок охлаждения
• Совместимость с моделями электронных микроскопов разных производителей